Λεπτομέρειες για το προϊόν
Τόπος καταγωγής: Κίνα
Μάρκα: YL
Αριθμό μοντέλου: YBT-1
Όροι πληρωμής και αποστολής
Ποσότητα παραγγελίας min: 1 σύνολο
Τιμή: negotiable
Συσκευασία λεπτομέρειες: 1 θήκη από αντιγραμμισμένο ξύλο
Χρόνος παράδοσης: 20 ημέρες
Όροι πληρωμής: T/T, Western Union, MoneyGram
Δυνατότητα προσφοράς: 1 σύνολο ανά 15-20 ημέρες
Μέγεθος:: |
Περίπου L700×W250×H400 mm |
Βάρος: |
Περίπου 60 κιλά. |
Ηλεκτρική τροφοδοσία: |
Δυναμικό άντλησης |
Δυνατότητα στροφής σε τρεις περιοχές: |
σύμφωνα με τα τυποποιημένα δεδομένα θέσης ISO |
Αντίσταση στροφής: |
10 cm, 20 cm και ±15C |
Αριθμός χειριστή: |
1 άτομο |
Μέγεθος:: |
Περίπου L700×W250×H400 mm |
Βάρος: |
Περίπου 60 κιλά. |
Ηλεκτρική τροφοδοσία: |
Δυναμικό άντλησης |
Δυνατότητα στροφής σε τρεις περιοχές: |
σύμφωνα με τα τυποποιημένα δεδομένα θέσης ISO |
Αντίσταση στροφής: |
10 cm, 20 cm και ±15C |
Αριθμός χειριστή: |
1 άτομο |
Δοκιμαστής κάρτας κάμψης και στρεβλώσεως YBT-1 για τη δοκιμή κάρτας IC κάμψης και χωρητικότητας στροφής
Δοκιμαστής κάρτας επαφής IC κάμψης και στροφής YBT-1
(Δοκιμαστής κάρτας IC, Δοκιμαστής κάρτας IC επαφής, μηχανή δοκιμής κάρτας, μηχανή κάρτας IC, μηχανή έξυπνης κάρτας)
1Εισαγωγή του δοκιμαστή κάρτας κάμψης και στροφής YBT-1 για τη δοκιμή της ικανότητας κάμψης και στροφής κάρτας IC
Ο δοκιμαστής κάρτας κυψελών IC YBT-1 έχει σχεδιαστεί για τη δοκιμή της ικανότητας κάμψης και στροφής της κάρτας κυψελών IC επαφής σε τρεις περιοχές σύμφωνα με τα δεδομένα θέσης του προτύπου ISO.
2. Χαρακτηριστικά του δοκιμαστή κάρτας κάμψης και στροφής YBT-1 για τη δοκιμή της ικανότητας κάμψης και στροφής κάρτας IC
3Τεχνική παράμετρος του δοκιμαστή κάρτας κάμψης και στροφής YBT-1 για τη δοκιμή της ικανότητας κάμψης και στροφής κάρτας IC
| Ηλεκτρική τροφοδοσία | Δυνατότητα εκπομπής: |
| Αντίσταση στροφής | 10 cm, 20 cm και ±15C |
| Διάσταση | L700 × W250 × H400 mm |
| Δυνατότητα στροφής σε τρεις περιοχές | Σύμφωνα με τα δεδομένα θέσης του προτύπου ISO. |
| βάρος | Περίπου 60 κιλά. |
| Αριθμός φορέα: | 1 άτομο |
4Εφαρμογή του δοκιμαστή κάρτας κάμψης και στροφής YBT-1 για τη δοκιμή της ικανότητας κάμψης και στροφής κάρτας IC
